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超声波测厚仪 MT200
超声波测厚仪具有的性能特点如下:1、概述MT200仪器是智能型超声波测厚仪,采用*新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超 声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声
2026-03-30
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超声波测仪 UM-2D
性能和特点:我厂开发生产的UM-2D超声波测仪具有小巧轻便,操作简单,功能卓越。两种工作模式,其中涂层模式即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度
2026-03-30
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高精超声波测厚仪 UM-3
性能和特点:我厂开发的生产的UM-3高精超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波
2026-03-30
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薄膜测厚仪 SGC-10
性能和特点:适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测
2026-03-30
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自动椭圆偏振测厚仪 SGC-2
性能和特点:1、光源:采用波长为632.8nm的氦氖激光光源①其特点是:光强大、光谱纯、波长稳定性好。2、接收器:采用光电倍增管⑤,把光讯号变为电讯号,经放大后输出至微机,由微机选择出消光位
2026-03-30
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薄膜测厚仪 ST2000-DLXn
性能和特点:采用的是光学技术方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之间的干涉现象或是利用光的相位差来决定薄膜的性质。这样我们不但可以测量薄膜厚度还可测量光学常
2026-03-30
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干涉仪 WLI RING
性能和特点:WLIRAD测量系统主要用于表面形貌和粗糙度特征的快速准确测量(计算粗糙度数据),测量圆柱类工件内外表面的微观结构和表面特征。以扩展的显微三维测量模式为特征,有多种选项如:放
2026-03-30
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涂镀层测厚仪铁 CMI153
性能和特点:CMI153结合磁感应和电涡流技术,在CMI150基础上,通过增强操作性能及出色的底材灵敏度,改进了测量探头。CMI153适用于多种配置,可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的非磁
2026-03-30
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镀层测厚仪 CMI243
性能和特点:CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它
2026-03-30
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麦考特覆层测厚仪 JK21
德国EPK公司麦考特覆层测厚仪,精确无误地测量钢铁上的涂层镀层厚度:·电镀层,电镀镍层,磷化膜·油漆,粉末涂层·塑料,橡胶MIKROTEST覆层测厚仪、测量钢上所有非磁性涂层镀层厚度(如漆、粉末涂
2026-03-30
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涡流测厚仪 ED300
性能特点如下:ED300型涡流测厚仪是ED200的改进型。仪器性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》,多次通过国家计
2026-03-30
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涡流测厚仪 ED400
性能特点如下:ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,
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涂层测厚仪 D-MP0
性能特点如下:D-MP0型涂层测厚仪符合国家标准GB/T4956和GB/T4957,可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。采用双功能内置式探头,自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行精确
2026-03-30
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磁性测厚仪 TD300
性能特点如下:TD300型磁性测厚仪是一种小型便携式仪器。仪器性能稳定,测量准确,重现性好,经济耐用。仪器采用电磁感应原理,符合国家标准GB/T4956-2003《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁
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德国尼克斯涂层测厚仪 QuaNix 8500
QuaNix 8500德国尼克斯涂层测厚仪|膜厚计 (Fe 0-2000um)产品概述:零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确
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涂镀层测厚仪 QuaNix 1200
德国尼克斯QuaNix 1200一体化铁基涂镀层测厚仪0-2000um零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台
2026-03-30
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尼克斯涂镀层测厚仪 QuaNix 4500
德国尼克斯QuaNix 4500一体涂镀层测厚仪零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪
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涂层测厚仪 QuaNix4200
德国尼克斯QuaNix4200涂层测厚仪简介及特点:德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯(Dr.Nix)博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自
2026-03-30
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涂层测厚仪 QuaNix 1500
德国尼科斯的QuaNix 1500型涂层测厚仪是目前唯一的两用式金属测厚仪,即一台仪器中装有两个独立的可测量磁性金属和非磁性金属的探头。测量范围大、使用简单、结构坚固。该机操作简单,可单
2026-03-30
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涂层测厚仪 QNix 7500
QuaNix7500M涂层测厚仪温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度
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