SENDURO?, 革命性的光谱椭偏仪 优势: ? 高测量速率 ? 全自动样品校准 ? 可测量透明和吸收基底 ? 按键式操作 ? 友好的软件界面 ? 高测量精度 ? *简化安装过程 分析

规格 光谱范围250 nm ... 900 nm测量时间单点测量时间40 μs, 全光谱测量时间20 ms可变入射角度45, 50, 55, 60, 65, 70, 90 deg载物台可调节高度和倾斜度的载物台，手动25 mm x-y 方向移动光源Xe弧光灯分光

可测量大尺寸材料、单层与多层膜、界面、超薄膜与厚膜的厚度与光学参数。SE850DUV特别适用于高要求的研发应用，例如测量玻璃上的薄透明膜、有机发光体、多层半导体材料复合膜、窗玻璃上

光谱范围: 190 nm - 950 nm SE 800 DUV 针对要求苛刻的应用而设计，如玻璃上的极薄透明膜，平板印刷中的光刻胶材料和减反射膜，透明或吸收基底上的多层膜，高级微电子应用比如SOI，ONOPO和高k

固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪,选件同SE800选件。主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻璃上防反射膜，微电子应用：SOI/高K/低K。

中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导体, OLED和有机物光谱范围内振动光谱的优良

主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻璃上防反射膜，微电子应用：SOI/高K/低K.各项异性材料测量。选件请参考SE800选件。

在线式光谱椭偏仪，可以在线测量薄膜厚度

光谱范围: 700 nm - 1700 nm SE 805是近红外光谱椭偏仪，是在近红外波段基于快速干涉调制探测的高性能光谱椭偏仪。SE 805使用步进扫描分析器方式，调制光的强度在固定的分析器位置被测量，使

迄今为止*简单易用的椭偏仪 ?SE 500adv结合椭偏测量和反射测量 ?可消除椭偏测量对透明膜厚度的周期不确定性 ?膜厚测量范围可扩展至25000 nm. ?激光波长632.8 nm ?反射计光谱范围4

深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料，测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射

商品描述：中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导体, OLED和有机物光谱范围内振动

主要技术参数测量范围400°C -1200°C安装距离距离系数100:1输出信号两线制标准4-20mA精度读数的±1%或 ±1°C发 射 率0.1-1.0 / 0.95重 复 性读数的±0.5%或 ±0.5°C响应时间50ms光谱范围1.6um电源15-24VDC (100mA)

性能特点如下：大平片光谱仪是专为手机屏、液晶显示屏等制造行业设计的光谱测试仪。该仪器可以对手机屏、液晶显示屏进行定波长测试和光谱扫描，是质量监测必不可少的检测工具。技术参

性能特点如下：BioSpectrometer fluorescence紫外/可见光/荧光分光光度计同时具备吸收光和荧光强度两种检测模式，既可在紫外可见光范围内进行广泛的吸收光应用，如针对200-830nm的波长范围提供光谱

性能特点如下：SP-3800AA系列是一款具有多项国内国际领先技术的原子吸收光谱仪，凝聚了 “上海光谱”潜心研制的多项创新技术。首创智能杂散光测量和校正技术（已申请发明专利）首创计算

性能特点如下：SP-3800AA系列是一款具有多项国内国际领先技术的原子吸收光谱仪，凝聚了 “上海光谱”潜心研制的多项创新技术。首创智能杂散光测量和校正技术（已申请发明专利）首创计算

性能特点如下：SP-3800AA系列是一款具有多项国内国际领先技术的原子吸收光谱仪，凝聚了 “上海光谱”潜心研制的多项创新技术。首创智能杂散光测量和校正技术（已申请发明专利）首创计算

性能特点如下：SP-3800AA系列是一款具有多项国内国际领先技术的原子吸收光谱仪，凝聚了 “上海光谱”潜心研制的多项创新技术。首创智能杂散光测量和校正技术（已申请发明专利）首创计算

性能特点如下：1、SP-3500AA系列原子吸收分光光度计，是“上海光谱”自主研发的新一代标志性产品。仪器突破了国产高端产品在氘灯扣背景技术上的瓶颈，为元素定量分析提供可靠保证。2、Win-