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光谱椭偏仪 SE850DUV

日期:2026-03-30 人气:1
光谱椭偏仪 SE850DUV
    型号:SE850DUV
    监管
    尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:光谱椭偏仪 SE850DUV
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.光谱椭偏仪 SE850DUV可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买光谱椭偏仪 SE850DUV,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。

深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度,并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响;深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料,测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射率梯度。近红外使用FTIR,测量时间短(全光谱、多角度测量可在10分钟内完成),具有自

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