激光测距仪D3简介：该徕卡disto ™激光测距仪D3还可以计算面积，体积，房间尺寸和各种类型测量。可以存储20个测量值，目的是为了使您的的工作更轻松。皮套：让仪器可以更清洁. 反射板：

产品简介：FLIR i-系列在建筑、电气和管道设施中的应用FLIR公司革新传统测温理念，继FLIR  i-系列*畅销型号i3和i7两款产品之后又推出FLIR  i5，蕴含先进红外技术，且其价格定位旨在迎合广

工作原理脉冲～回波方式测量范围0.8～300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率毫米-0.1英寸-0.01探头零点校准一点校准（用于常规的厚度测量）两点校准（测量曲面壁厚或特

技术数据工作原理脉冲～回波方式（标准模式，用于普通厚度测量）回波～回波方式（涂层模式，用于不去除油漆层的基材净厚度测量）测量范围0.8～300mm（标准模式）3.0～18mm (涂层模式)取决于

技术数据工作原理脉冲～回波方式测量范围0.8～300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率毫米-0.01，0.1英寸-0.001，0.01探头零点校准一点校准（用于常规的厚度测量）两点校准

概述TT220磁性测厚仪|漆膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量；广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该

涂层测厚仪概述TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检

概述涂层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量；既可用于实验室，也可用于工程现场；广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业

一、产品概述    原理：超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声

一、产品概述        超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精

一、产品概述      超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超

一、性能指标 测量范围：0.75mm～300.0mm 显示分辨率：0.1/0.01mm（可选） 测量精度：±（1%H+0.1）mmH为被测物实际厚度 管材测量下限（钢）：Φ15mm×2.0mm *小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或

简单介绍BXS10-THCH-2008超声波测厚仪，系列是采用微电脑对数据实行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。广泛应用于石油化

一、工作原理：    超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在

一、工作原理：     超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声

详细说明原理：超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的

管壁厚测厚规主要测量带弧度的测量面比如水管眼睛片等测量头球型规格0-10*30MM精度0.01MM

介珍珠测厚仪-宝石测厚仪，小巧精致，简单大方数显钻石，宝石卡尺——主尺和游标尺为平面读数，有效地避免了主尺钻石型（八角型）断面的视差。可测量外径，内径和深度。滑块下装有锁

型号：BXS10-TT280ATT280A涂层测厚仪简单介绍：TT280A涂层测厚仪使用了全金属外壳结构，更加坚固耐用，测值精准稳定，价格经济实惠！TT280A涂层测厚仪符合以下标准：GB/T 4956─1985 磁性金属基体上

产品说明：TT230本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小