技术参数（机械部分）XY扫描器：100μm×100μm（闭环），可选配200μm×200μm（闭环）Z扫描器：12μm (可选配25μm)水平度：100μm线扫描垂直偏差不超过±2nmXY和Z扫描器的正交性：1.0°样品台移动范围：

XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品，该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman

技术参数(机械部分)：1.  XY扫描器：100μm×100μm（闭环），可选配200μm×200 μm2.  Z扫描器：12μm (可选配25μm)3.  水平度：50μm线扫描垂直偏差不超过2nm4.  XY和Z扫描器的正交性：1.0°5.

技术参数(机械部分)：1. XY扫描器：50μm×50μm（闭环），可选配100μm×100 μm（闭环）2. Z扫描器：12μm (可选配25μm)3. 水平度：50μm线扫描垂直偏差不超过1nm4.  XY和Z扫描器的正交性：1.0°5. 样品

技术参数(机械部分)：1. XY扫描器：50μm×50μm（闭环），可选配100μm×100 μm（闭环）2. Z扫描器：12μm (可选配25μm)3. 水平度：50μm线扫描垂直偏差不超过1nm4. XY和Z扫描器的正交性：1.0o5. 样品台移动

技术参数(机械部分）：1. XY扫描器：100μm×100μm（闭环）2. Z扫描器： 25μm3. 水平度：100μm线扫描垂直偏差不超过2nm4. 样品台移动范围：10mm（X/Y），14mm (Z)5. 成像方法：离子电导ICM（液态环境）和

特点：1. 优秀的低加速电压成像能力，1kv分辨率可达1.3nm2. 日立专利的ExB设计，不需喷镀，可以直接观测不导电样品3. Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像4. 可以根据样品类型和观测

特点：1. 优秀的低加速电压成像能力，1kv分辨率可达1.3nm2. 日立专利的ExB设计，不需喷镀，可以直接观测不导电样品3. Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像4. 可以根据样品类型和观测

特点：1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界*高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。3. 全新真空技术设计使得SU9000

S-3400N具有*新开发的电子光学系统，强大的自动化功能，操作更简易。特点:1. S-3400N具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、   自动合轴自动聚焦和

新型透射电子显微镜“HT7700”HT7700作为全球畅销的日立TEM H-7000系列的*新机型，是日立高新技术公司为生物、制药、纳米技术和软材料等领域而开发的*先进的透射电子显微镜。HT7700具有优异的操

特点：1．易于操作的Windows XP和图形操作界面2．高效快捷的数字化电子显微镜5分钟内实现300kV 高压下电子束发射(自动模式)1分钟换样时间3．快慢双模式照相系统4．图片数据库5．稳定可靠的5轴

日立首创了台式电镜这一类型产品，它一改已往电镜体积大、安装环境苛刻、操作复杂等缺点，体积小巧，可以在普通试验台上安装使用；同时操作简易，样品基本不需要制备，可以直接观测；

 RFM340+ 折光仪可用于您能想象到的*严峻的实验环境，特别适合于潮湿的工厂或实验室环境。满足要求温度控制的各种应用。   √ LED冷光源，长寿命100,000hr以上   √ 内

CPJ-3015A 数显型测量投影仪，光学系统品质优良，物镜 成像清晰，放大倍率准确.在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%；数显型测量投影仪配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出.和采样

优点： ·可以和任何HPLC连用 ·耐用性和可靠性 ·自动活塞冲洗 ·低脉冲流动   试剂泵：独立并可调节,低脉冲性   流量可以从0.05 到2.00 mL/minute 调整，操作压

投影仪是光学计量仪器中检测效率较高的一种仪器，它利用光学原理将被测件轮廓或表面状况按准确倍率放大到投影屏上，进行轮廓测量、坐标测量、比较测量、还可利用反射照明对工件表面状

产品简介及特点：     Aduro?是达原子精度的超高温加热以及电性能测试平台，能原位进行材料的热学和电学性能测试。 它有传统加热台无法比美的性能： ·Aduro?能在高温度下