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冷场发射透射电镜 JEM-F200

日期:2026-04-14 人气:8
冷场发射透射电镜 JEM-F200
    型号:JEM-F200
    监管
    尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:冷场发射透射电镜 JEM-F200
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.冷场发射透射电镜 JEM-F200可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买冷场发射透射电镜 JEM-F200,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。

2016年1月,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。

JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点如下:

(1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;

(2)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS;

(3)电镜光源:冷场发射光源比其他电镜使用的肖特基热场发射光源能量发射度小,在TEM成像时相干性更好,图像质量大大提高;

(4)聚光镜汇聚方式:新电镜采用四级聚光镜且亮度及会聚焦分开控制,很容易获得追加实验条件,避免了传统的聚光镜亮度与会聚焦同时控制,有时会相互干扰,无法达到*佳状态。

(5)物镜汇聚方式:物镜上采用扫描方式,可以获得大范围的STEM-EELS


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