X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT9500

性能和特点:SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。

所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。

同时,SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮),在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

★ X射线发生系统采用了聚光导管 
由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十倍以上的X射线强度,从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

★ 无需液氮的半导体检测器 
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率,而且可以实现高计数率。同时,由于使用了电子冷却方式,所以无需液氮。

★ 能谱匹配软件(选配件) 
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

★ 块体检量线软件(适用于电镀液分析) (选配件) 
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

★ 绘图软件(选配件) 
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

★ 电镀液容器(选配件)

★ 各种标准物质(选配件)

技术参数:可测量元素 
原子序数13(Al)～83(Bi)

X射线聚光 
聚光方式

X射线源 
管电压:50kV 
管电流:1mA

检测器 
Vortex?检测器(无需液氮)

分析范围 
Φ0.1mm、Φ5mm

样品观察 
彩色CCD摄像头(附变焦功能)

滤波器 
3种模式自动切换

样品室 
样品平台 240(W)×330(D)mm 
移动量 X:220mm Y:150mm Z:150mm 
载重量 10kg

重量 
123kg(不含电脑)

X-ray Station 
台式电脑 19"LCD 
(OS; MS-Windows XP?)

膜厚测量软件 
薄膜FP法(*多五层,各层十种元素) 
检量线法(单层、双层、合金膜厚成分)

定量分析功能 
块体FP法

统计处理功能 
MS-EXCEL?

报告制作 
MS-WORD?

安装环境 
温度:10℃～35℃(±)5℃ 
湿度:35%～80%

使用电源 

接地三头插座 AC100、15A