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磁粉探伤仪 CEE-I

日期:2026-03-30 人气:1
磁粉探伤仪 CEE-I
    型号:CEE-I
    监管
    尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:磁粉探伤仪 CEE-I
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.磁粉探伤仪 CEE-I可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买磁粉探伤仪 CEE-I,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。

性能和特点:

磁粉探伤仪适用于湿磁粉法检测曲轴、凸轮轴、花键轴等各种中小型零件的表面及近表面因铸造、淬火、加工、疲劳等原因引起的裂纹及细微缺陷,是单件检测,小批抽检,大批量检测的首选机型。CEE-I型电磁轭伤仪是小型便携式无损检测专用仪器,具有交直流两种输出功能。采用可控硅组成无触点的电子、电路、噪音小、寿命长、体积小、重量轻、提升力大等优点。

技术参数:

电源电压:交流220V

输出电压:交流36V,直流8V

提升力:马蹄(A型)探头交流≥6kg 电磁轭(D型)探头交流≥6kg 直流36kg 环型(O型)探头交流1800TA

主机重量:5.5kg

外型尺寸:230×110×165mm


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