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多角度激光椭偏仪 SE400adv

日期:2026-03-30 人气:1
多角度激光椭偏仪  SE400adv
    型号:SE400adv
    监管
    尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:多角度激光椭偏仪 SE400adv
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.多角度激光椭偏仪 SE400adv可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买多角度激光椭偏仪 SE400adv,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。

 多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器,对测量薄膜厚度,折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜,多层膜和大块材料(基底) 
? 超高精度和稳定性,来源于高稳定激光光源、温度稳定补偿器设置、起偏器跟踪和超低噪声探测器 
? 高精度样品校准,使用光学自动对准镜和显微镜 
? 快速简易测量,可选择不同的应用模型和入射角度 
? 多角度测量,可完全支持复杂应用和精确厚度 
? 全面的预设应用,包含微电子、光电、磁存储、生命科学等领域 

规格: 
? 激光波长632.8 nm 
? 150 mm (z-tilt) 载物台 
? 入射角度可调,步进5o 
? 自动对准镜/显微镜,用于样品校准 
? Small footprint 
? 以太网接口连接到PC 

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