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光学三维轮廓仪 NanoMap-D

日期:2026-03-30 人气:37
光学三维轮廓仪 NanoMap-D
    型号:NanoMap-D
    监管
    尊敬的供应商:如果您对展示该产品有异议,请至电:021-50308503我们将在第一时间处理!
    产品名称:光学三维轮廓仪 NanoMap-D
    结构组成
    适用范围
    温馨提示
    1.光学三维轮廓仪 NanoMap-D可能含有禁忌内容或者注意事项,具体详见说明书;
    2.购买光学三维轮廓仪 NanoMap-D,消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用。

公司简介:

aep Technology引领材料表面形貌测试测量未来。长期致力于材料表面形貌及外形轮廓的测试研究,先进的三维成像技术更带您进入材料表面的三维图像世界,观察表面的每一个细节, 生成精密的图像数据,揭示材料表面的真实形貌。结合精密的分析测试软件,为您进行的尖端研究提供援助,协助您创造更多的价值。

 

产品介绍:

NanoMap系列产品可广泛的应用于材料科学、薄膜涂层、生物、化工、石油、微电子、微型传感器、半导体材料、自动控制、航空航天、汽车工业及机械工具的材料研究和开发。NanoMap - D产品兼备接触式(探针扫描轮廓仪)及非接触式(白光干涉轮廓仪)的优点于一身的三维表面形貌测量设备。适用全材料体系测量,几乎可以接纳任何材料表面,包括水、油到碳。

 

应用:

三维表面轮廓测量和粗糙度测量, 即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。

薄膜和厚膜的台阶高度测量。

划痕形貌, 磨损深度、宽度和体积定量测量。

空间分析和表面纹理表征。

平面度和曲率测量。

二维薄膜应力测量。

微电子表面分析和 M E M S 表征。

表面质量和缺陷检测。

 

环境要求:

湿度: 10 - 80% ,相对湿度,无冷凝

温度: 65 - 85华氏度(△ T < 1 度/ 小时)

电源要求: 110 / 240 V ,50 / 60 Hz

 

高清图像

2维、3维的直方图等视图

白光干涉可以呈现2维和3维图像。利用所提供的软件,通过设置一些选项、可以得到客户需求的的曲线、标绘、视图(例如直方图及雷达图等)


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